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手持式鍍層測厚儀涂層的標定與使用

 更新時間:2016-12-21 點擊量:2276
  手持式鍍層測厚儀涂層厚度的測量要領首要有楔切法涂層測量、光截法涂層測量、電解法涂層測量、厚度差測量法、稱重法涂層測量、χ射線熒光法涂層測量、β射線逆向散射法涂層測量、電容法涂層測量、磁性測量法和渦電流測量法測量厚度等。這些個要領中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速率慢,多適用于取樣檢驗。手持式鍍層測厚儀向微型、智能、多功效、高精度、實用化的方向進了一大步。測量的分辯率已達1微米,精度可達1%,有了大幅度的提高。手持式鍍層測厚儀適用規(guī)模廣、量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的涂層測厚儀器。
  探頭與導磁鋼材之間的吸力大小與處在這兩者之間的間隔成是比例關系。這個間隔就是涂層的厚度。根據(jù)這一道理制成手持式鍍層測厚儀,只要涂層與基體的導磁率之間足夠大,就可舉行涂層測量。鑒于大部分數(shù)工業(yè)品采用布局鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性手持式鍍層測厚儀應用zui廣。涂層測厚儀基本布局由磁鋼,接力簧,標尺及自動停機構(gòu)構(gòu)成。磁鋼與被測物吸合后,將測量簧在其后逐漸拉長,拉力逐漸增大。當拉力恰好大于魔力,磁鋼脫離的一剎時記錄下拉力的大小即可獲得涂層厚度。這種儀器的特點是操作簡便、堅固不容易用壞、不消電源,測量前無須校準,價格比力低,很適合廠房做現(xiàn)場質(zhì)量控制。
  影響手持式鍍層測厚儀測量的若干因素。磁性法測量厚度受基體金屬性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可認為是輕細的),為了避免熱處置懲罰和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具備相同性質(zhì)的規(guī)范片對儀器舉行校準;基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其質(zhì)料成份及熱處置懲罰要領涉及。使用與試件基體金屬具備相同性質(zhì)的規(guī)范片對儀器舉行校準;每種儀器都有一個臨界厚度,大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響;對試件外貌形狀的陡變敏銳,因此在接近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處舉行測量是不可靠的;試件的曲率對測量有影響,隨著曲率半徑的減少較著地增大,因此,在彎曲試件的外貌上測量也是不可靠的;探頭會使軟涂層試件變形,因此在這些個試件上測不出可靠的數(shù)值;基體金屬和涂層的外貌粗拙度對測量有影響。粗拙度增大,影響增大,粗拙外貌會引起系統(tǒng)偏差和間或偏差,每次測量時,在不同的位置上應增長測量的回數(shù),以降服這種間或偏差。

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